FIB管理員
吳心如 Jennifer Wu
職責：
管理/操作聚焦離子束電子顯微鏡系統
Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope (Dual beam FIB-SEM), Zeiss Crossbeam 550L
Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope (Dual beam FIB-SEM), Zeiss Crossbeam 550L
SPM技術員
廖彥婷 Jessica Liao
職責：
管理/操作掃描式探針顯微鏡
Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope (SPM/AFM)
Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope (SPM/AFM)
實驗室助理
實驗室助理
張淑嫺 Sophia Chang
職責：
實驗室文書處理